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上海明策电子科技有限公司

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上海光电测试系统性能特点 客户至上 上海明策供应

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  • 价格面议
  • 订货量1-100件
  • 产品型号
  • 原产地上海市
  • 品牌
  • 产品数量1000
  • 行业电子元器件>传感器>光电传感器
  • 产品系列上海光电测试系统性能特点,光电测试系统

上海明策电子科技有限公司

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产品描述

 ST测试系统计算机化测试系统,半自动测试短波红外相机的重要参数;1)ModeI:分辨率,MRC(蕞小可分辨对比度),MTF(调至传递函数),Distortion(畸变),FOV(视场),灵敏度,SNR(信噪比),NEI(噪声等效输入),FPN(固定图形噪声),non-uniformity(非均匀性)等;2)ModeII:MRTD(蕞小可分辨温差,MDTD(蕞小可探测温差),MTF(调至传递函数),NETD(噪声等效温差),FPN(固定图形噪声)等;3)ModeIII:(MeanDetectivity(平均探测率),NoiseEquivalentIrradiance(噪声等效辐亮度),噪声,动态范围等。明策光电测试系统,提升钟表制造业走时精确度。上海光电测试系统性能特点

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TAIM热瞄准镜和热像仪夹测试系统是DT系统的一个特殊版本,为测试典型的热瞄准镜或热像仪夹而优化,可以快速、多功能和准确地测试。TAIM由DT120测试系统(用作图像投影模块和图像分析模块),附加一组模块:用于瞄准具测试的Picatinny导轨,两个HEC相机用于捕捉图像,AHEC适配环固定HEC相机的位置,YNAS10平台可以调整相机与被测样品之间的夹角,DPM屈光度量度计,AT720光学平台,可选配其他分析软件和HEC相机和可选DICAN距离调整装置。上海德国进口光电测试系统INFRAMET SIM 热成像光电测试系 统,精确把控汽车制造关键环节。

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MS系列系统是Inframet主要测试系统,可测量多种红外整机系统:热像仪,可见光-近红外相机,短波红外相机、激光测距机和多传感器测试系统等,进行系统测试和轴对准的测试。测试功能1.不同视场适用波段:可见光,近红外,短波红外,中波红外和长波红外;2.可测量多种红外整机系统:热像仪,可见光-近红外相机,短波红外相机、激光测距机和多传感器测试系统等;

MS多波段整机测试系统测量不同系统的原理如下。测试热像仪:图像投影仪投射图像到中波/长波范围热像仪,由计算机系统生成的图像分析被检测热像仪。高精度的离轴反射式CDT平行光管,TCB差分黑体,以及一组红外靶标用于投影。测试可见光/NIR相机:可见光/NIR投影系统与图像分析计算机系统相结合来测量电视相机。包括CDT反射式平行光管,可见光/NIR光源,和一组可见光靶标;

FUT靶标为棋盘型靶标,采用大面积、均匀温度的辐射源,经表面加工后在高发射率背景下实现低发射率。FUT靶标尺寸较大,能够完全填充被测融合成像系统的视野。利用热像仪和可见光/近红外成像传感器对FUT靶标进行图像采集,为有效的图像融合提供了必要的数据。FUT靶标是一种均匀加热的靶标,通常不能够进行调节高温度。操作较为简单,插上电源加热十几分钟稳定后就可进行使用。

测试功能:FUT靶标可以用于以下测试:•对准误差(热通道光轴相对于可见光通道光轴的角度)•旋转误差(热通道图像与可见通道图像之间的角度)•热成像通道图像相对于可见成像通道图像的二维空间位移图(与另一通道中的同一像素相比,像素的位移量和位移方向的信息)•热像仪分辨率测试 光电测试系统,保障文物修复科学精细。

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MTB系列黑体是精密的面源黑体,旨在模拟中温目标。使用一个薄的面加热元件来控制散热器温度。黑体散热器的***温度可以调节在约50摄氏度到550摄氏度之间。发射器面积可以从50x50mm到500x500mm,具体取决于型号。应用MTB黑体可用于一系列可能的应用:1、在中温范围内测量热像仪的精度(已知温度的面源)。2、监控系统SWIR成像仪3、用于测试SWIR/MWIRFPAs的系统

至高温度:典型的至高温度为550℃。如果不需要这样的温度,则最高温度可以降低到350℃,并且提供更好的热均匀性。 光电技术,应用于铁路维护,保障行车安全。上海光电测试系统供应

光电系统应用于物流,提升包裹分拣准确性。上海光电测试系统性能特点

NVS夜视设备多功能测试系统是一个模块化的测试系统,可测试长程夜视瞄准设备,同时支持测试短程夜视镜及双目夜视镜。因此NVS测试系统是一个多功能测试系统。NVS测试系统采用模块化设计,包括一组可切换的透射式光管、可移动的光源和一组靶标等模块。NVS测试系统的测试过程是基于MIL系列标准的建议。NVS测量系统投影一个标准靶标的图像到水平固定的被测夜视仪。通过调节两个旋钮,操作者可以控制透射到被测量夜视仪光的强度和靶标的类型。被测量器件生成一个畸变的标准靶标的图像。通过人眼观察或者借助测量工具如亮度计来评估这个畸变的图像,得到被测量器件的重要参数。上海光电测试系统性能特点